CCR76CG102JR 参数 Datasheet PDF下载

型号：	CCR76CG102JR
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内容描述：	Multiayer陶瓷电容器引线 [Multiayer Ceramic Leaded Capacitors]
分类和应用：	电容器陶瓷电容器
文件页数/大小：	71 页 / 1094 K
品牌：	AVX [ AVX CORPORATION ]

电容器

直流电压的施加的影响示于

图4.电压系数是更为明显

高K电介质。这些数字显示的房间温

perature条件。众所周知的组合特征

作为电压的温度范围，显示的效果

额定电压在工作温度范围内是

在图5中为军事BX特性所示。

"Q"因子

“Q”与频率的关系

2000

1600

1200

AVX

C0G （ NP0 ）

T.C.

帽。改变与直流电压

AVX X7R T.C.

静电容量变化百分比

2.5

-2.5

-5

-7.5

-10

25%

50%

75%

％的额定电压

100%

800

400

AVX X7R T.C.

千赫

100

千赫

兆赫

100

兆赫

GHz的

频率

图7

影响频率 -

高频电容的影响

和耗散因子在图6和图7所示。

同频率的阻抗的变化是一个重要的CON-

sideration的去耦电容的应用程序。铅

长，铅的配置和车身尺寸都影响

通过以上的陶瓷配方杂物 - 阻抗水平

系统蒸发散。（图8）

影响时间 -

第2类瓷介电容器的变化

电容和损耗因数与时间以及

温度，电压和频率。这种随时间的变化

被称为老化。老化是造成一个渐进的重新对齐

陶瓷的晶体结构的精神疾病和

生产指数损失电容和下降

在损耗因数随时间的变化。老化的典型曲线

速率为半稳定的陶瓷示于图9和一个

表给定的表示各种电介质的老化速率。

如果陶瓷电容器一直坐在架子上的那

在一段时间内，在上述其居里点加热（125℃为

4小时150℃的

⁄

小时就足够了）的一部分会

脱年龄和返回到它的初始电容和耗散

系数读数。因为电容变化迅速，

去老化后立即将基本电容

测量通常称为一个时间段某处

去老化处理之后的时间。各个厂家使用

不同的时基，但最常用的是一天或

后24小时“最后的热。 ”改变的老化

曲线可以通过电压的施加而引起并

其他压力。在电容由于可能发生的变化

德化通过加热单元解释为什么电容

允许改变测试之后，如温度

骑自行车，耐湿性等，在MIL规格。该

应用高电压，如介质的耐

电压也趋向于去岁电容，是为什么

重新读出电容的12或24小时后，被允许在

军事规格后的介电强度试验有

被执行。

图4

典型帽。随温度变化

AVX X7R T.C.

静电容量变化百分比

+20

+10

0VDC

-10

-20

-30

-55 -35

-15

+25 +45 +65 +85 +105 +125

RVDC

温度℃

图5

帽。变化与频率的关系

静电容量变化百分比

AVX C0G （ NP0 ） T.C.

AVX X7R T.C.

-10

-20

-30

千赫

100

千赫

兆赫

100

兆赫

GHz的

频率

图6

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