III 。可靠性应力的AOB11C60结果
测试项目
测试条件
时间
点
-
LOT
归因
12批次
总
样本量
2112pcs
数
of
失败
0
参考
标准
JESD22-
A113
JESD22-
A108
JESD22-
A108
JESD22-
A110
MSL
前提
HTGB
168小时85°C
/ 85％ RH下3周期
reflow@250°c
温度= 150 ℃，
的栅极电压= 100％
Vgsmax
温度= 150 ℃，
的Vds = 80 ％的
Vdsmax
130 ℃， 85 ％RH
33.3磅， VGS =
Vgs的最大值为100 ％
121℃ ， 29.7psi ，
RH=100%
-65 ° C至150° C，
空气到空气中，
168hrs
500小时
1000小时
168hrs
500小时
1000小时
96小时
539pcs
3手
4手
3手
4手
9批次
77个/很多
539pcs
77个/很多
495pcs
0
HTRB
0
HAST
0
压力罐
96小时
（注A * ）
9批次
（注A * ）
55个/很多
693pcs
77个/很多
924pcs
0
JESD22-
A102
JESD22-
A104
温度
周期
250 / 500
周期
12批次
0
（注A * ）
77个/很多
IV 。可靠性评估
FIT率（十亿） ： 4.16
MTTF = 27426年
FIT率对个别产品可靠性报告会是由实际的老化限制
选定产品（ AOB11C60 ）的样本量。故障率的确定是基于JEDEC
标准JESD 85 FIT意味着每十亿小时一次失败。
失效率（ FIT ）
=驰X 10
/
[2
（N） （H）（ Af）中的]
9
= 1.83 x 10
/
[2x
(6x77x500 +8x77x1000) x259] = 4.16
9
8
MTTF =
10 / FIT = 2.40 ×10小时= 27426年
Chi²
=驰平方分布，通过故障和置信区间的数目来确定
N
从HTRB和HTGB试验单位=总数
H
=的HTRB / HTGB测试时间
Af
=从测试加速因子使用条件（ EA = 0.7EV和土色= 55 °
C)
加速因子AF] =
EXP
[ EA /
k
（ 1 / TJ ü - 1 / TJ S） ]
加速系数比列表：
55摄氏度
70℃
85摄氏度
100℃
115摄氏度
130℃
150℃
2
9
Af
259
87
32
13
5.64
TJ s
=在程度上强调结点温度（开尔文） ，K = C + 273.16
TJ ü
=在度使用结点温度（开尔文） ，K = C + 273.16
k
=
玻尔兹曼常数， 8.617164 ×10
-5
电子伏特/ K
2.59
1
3
AOSMD [ ALPHA & OMEGA SEMICONDUCTORS ]
