III 。可靠性应力为AO4946 （标准）的结果， &
AO4946L （绿色）
继续
DPA
内部远景
横截面
X射线
NA
5
5
5
5
40
40
40
15
5
5
5
5
40线
40线
40线
15引线
0
CSAM
债券诚信
室温
150℃烘
150℃烘
245°c
NA
0hr
250hr
500hr
5秒
0
0
可焊性
剪切模
0
150°c
0hr
10
10
0
注一：
该HTGB和HTRB可靠性数据给出总的可用AO4946和
AO4946L
烧机数据到出版日期。
注B：
压力罐，温度循环和HAST可靠性数据AO4946和
AO4946L
来自通用AOS封装鉴定数据。
IV 。可靠性评估
FIT率（十亿） ： 128
MTTF = 891年
在一般情况下， 500小时HTGB ，150摄氏度加速应力试验相当于15年的
在55摄氏度的工作条件寿命（通过应用Arrhenius方程进行激活
0.7EV的能量和对故障率的计算上的置信水平60％）。 AOS可靠性
小组还定期监控产品的可靠性高达1000小时，在和执行必要的
对单位失效分析失败的可靠性测试（ S） 。
FIT率对个别产品可靠性报告会是由实际的老化限制
选定产品（ AO4946 ）的样本量。故障率的确定是基于JEDEC
标准JESD 85 FIT意味着每十亿小时一次失败。
故障率
=志
2
x 10
9
/
[2
（N） （H）（房颤） ] = 1.83 ×10
9
/
[2
(164) (168) (258)] = 128
MTTF =
10
9
/ FIT = 7.81 ×10
6
小时= 891年
Chi²
=驰平方分布，通过故障和置信区间的数目来确定
N
从HTRB和HTGB试验单位=总数
H
=的HTRB / HTGB测试时间
Af
=从测试加速因子使用条件（ EA = 0.7EV和土色= 55 ° C）
加速因子AF] =
EXP
[ EA /
k
（ 1 / TJ ü - 1 / TJ S） ]
加速系数比列表：
55摄氏度
70℃
85摄氏度
100℃
115摄氏度
130℃
150℃
Af
258
87
32
13
5.64
2.59
1
TJ s
=在程度上强调结点温度（开尔文） ，K = C + 273.16
TJ ü
=在度使用结点温度（开尔文） ，K = C + 273.16
k
=
玻尔兹曼常数， 8.617164 ×10
-5
电子伏特/ K
4
AOSMD [ ALPHA & OMEGA SEMICONDUCTORS ]
