III 。可靠性应力为AO4800 （标准）的结果， &
AO4800L （绿色）
继续
DPA
内部远景
横截面
X射线
NA
5
5
5
5
5
5
0
CSAM
债券诚信
室温
150℃烘
150℃烘
230°C
150°
C
NA
0hr
250hr
500hr
5秒
0hr
5
40
40
40
15
10
5
40线
40线
40线
0
0
可焊性
剪切模
15引线
10
0
0
注一：
该HTGB和HTRB可靠性数据给出总的可用AO4800和
AO4800L
烧机数据到出版日期。
注B：
压力罐，温度循环和HAST可靠性数据
AO4800L
来自
在AOS通用的绿色复合封装鉴定数据。
IV 。可靠性评估
FIT率（十亿） ： 11
MTTF = 10377年
500小时HTGB ，150摄氏度加速应力测试，相当于在55±15年寿命期内
度C的工作条件（通过应用Arrhenius方程进行0.7EV的活化能
和对故障率的计算上的置信水平）的60％。 AOS可靠性集团还
定期监测产品的可靠性达到1000小时，在并执行必要的故障
分析单位失败的可靠性测试（ S） 。
FIT率对个别产品可靠性报告会是由实际的老化限制
选定产品（ AO4800 ）的样本量。故障率的确定是基于JEDEC
标准JESD 85 FIT意味着每十亿小时一次失败。
故障率
=驰X 10
/
[2
（N） （H）（ Af）中的]
9
= 1.83 x 10
/
[2
(2×164) (500) (258) + 2 (164) (1000) (258)] = 11
9
8
MTTF =
10 / FIT = 9.0 ×10小时= 10377年
Chi²
=驰平方分布，通过故障和置信区间的数目来确定
N
从HTRB和HTGB试验单位=总数
H
=的HTRB / HTGB测试时间
Af
=从测试加速因子使用条件（ EA = 0.7EV和土色= 55℃ ）
加速因子AF] =
EXP
[ EA /
k
（ 1 / TJ ü - 1 / TJ S） ]
加速系数比列表：
55摄氏度
70℃
85摄氏度
100℃
115摄氏度
130℃
150℃
2
9
Af
258
87
32
13
5.64
2.59
1
TJ s
=在程度上强调结点温度（开尔文） ，K = C + 273.16
TJ ü
=在度使用结点温度（开尔文） ，K = C + 273.16
k
=
Boltznan “不变， 8.617164 ×10 ê
-5
V / K
s
4
AOSMD [ ALPHA & OMEGA SEMICONDUCTORS ]
