AMIS- 720442 -A ： 400dpi的接触式图像传感器
6.0两种测试设置的规格和性能
6.1首次设置
数据表
标准规格是在晶片上的晶片探测机器上执行，其中每个装置的图像传感器的测试
在生产中进行测试。然而，在这些测量的数据测量的时钟频率，在一个固定的频率500kHz 。自从
像素率等于时钟频率，像素率也处于500kHz的。根据第7.0规范是晶圆探针
规格，表2中。
6.2其次安装
与这些设备制造的CIS模块运行超过5.0MHz的。因此晶圆探针规范补充
使用的A6长度模块PCB板的高频时钟性能。
7.0光电特性（ 25
°
C)
在AMIS- 720442 -A的成像传感器芯片的电光特性示于表2。这是在晶片探针规范
用来测试每一个死在25
°
C.
表2 ：光电特性
参数
符号
的图片元素数
像素到像素的间距
(1)
行扫描速率
色彩
(2)
时钟频率
FCLK
(3)
输出电压
Vpavg
(4)
输出电压的非均匀性
Up
(5)
暗输出电压
Vd
(6)
暗输出的非均匀性
Ud
(7)
相邻的像素的非均匀性
Upadj
(8)
芯片到芯片的非均匀性
UCC
注意事项：
(1)
典型
128
~62.5
128/Fclk
500
1.8 ± 0.35
±
7.5
<100
<100
<7.5
±
7.5
单位
分子
µm
微秒/线
千赫
V
%
mV
mV
%
%
笔记
见注2更高的时钟速度（最大为5MHz ）
(2)
(3)
(4)
(5)
(6)
(7)
(8)
色调表示的线扫描速度或积分时间。它是由两个起始脉冲之间的时间间隔，其中所述起始脉冲启动线 - 确定
扫描过程中，一旦，CP模块时钟，取得它并将其移入内部移位寄存器。计算最小的积分时间在扫描它是数
在扫描由时钟频率划分像素。在CIS组件它是传感器的次数，在传感器的像素的数量，遍布时钟
频率。这一次，是专为晶圆探针集，以校准Vpavg ，见注（ 3 ） 。
是fclk是设备的时钟，CP，频率和它，也等于像素速率。在晶圆测试fCLK时钟设置为500kHz的。但是，非盟特派团已成功
大规模生产高频CIS组件，仅使用晶片测试合格它们。因此，该装置，这是在测试的一个A6尺寸的模块的PCB板
标准的高速，符合规格。
Vpavg =
ΣVp （ N） / Npixels
（在一个线扫描的平均电平）。
哪里
的vp （n）是n的振幅
th
像素中的传感器芯片和Npixels是在传感器芯片上的像素的总数。 Vpavg从冲击电流转换
视频像素转换成电压输出。参见图4 ，在第4.0节和图5中，在第5.0节。
Vpavg被校准为由于探针卡的变化的每一个图像传感器的类型，以及，所述接口电路，以在晶片探针机。
向上是均匀性规范，在一个统一的揭露曝光测量。 UP = [ VP（最大） - Vpavg ] / Vpavg ×100 ％或[ Vpavg - VP（分） ] / Vpavg } X
100 ％ ，以较高者为准。
哪里
的vp （ max）为最高的像素输出电压中的光。
的vp （分钟）为最小的像素输出电压在黑暗中。
像素VP （n）是一个n
th
像素中Npixels在传感器内。
VD =
ΣVp （ N） / Npixels 。
其中VP（ n）是n的像素的信号幅度
th
像素传感器。黑暗就是灯熄灭，留下的图像表面未曝光。
UD = Vdmax - Vdmin 。
Upadj = MAX [| （VP （n）的 - VP （正+ 1） | / VP （正） ）×100 ％。 Upadj是不均匀的百分比。它是两个相邻像素之间的幅度差。
UCC是均匀的规格，在晶片上的良好模之间进行测量。在均匀光照传感器进行测量，并与计算
下面的算法：在晶片上的所有好的模具Vpavg被平均化，并分配VGpavg 。然后用最大Vpavg模具被分配Vpavg （最大值） ，
和所述一个以最小Vpavg分配Vpavg （分钟）。然后UCC = {[ Vpavg （最大值） -Vpavg （分） ] / VGpavg } ×100 。
AMI半导体公司
- 2006年5月， M- 20571-001
www.amis.com
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