AMIS- 720341 -A ：
接触式图像传感器
6.0两种测试设置的规格和性能
6.1首次设置
数据表
标准规格是在晶片探针机器上执行图像传感器的测试，其中对每个器件
晶圆生产测试。然而，在这些测量的数据测量的时钟频率，在一个固定的频率500kHz 。自
像素率等于时钟频率，像素率也处于500kHz的。根据第7.0规范是晶圆探针
规格，表2中。
6.2其次安装
与这些设备制造的CIS模块运行超过5.0MHz的。因此，晶圆探针规范补充
使用的A6长度模块的PCB板高频时钟性能。
7.0光电特性（ 25
°
C)
在AMIS- 720341 -A的成像传感器芯片的电光特性示于表2。这是在晶片探针规范
°
用于测试的每个管芯在25 ℃。
表2 ：光电特性
参数
的图片元素数
像素到像素的间距
行扫描速率
时钟频率
输出电压
输出电压的非均匀性
暗输出电压
暗输出的非均匀性
相邻的像素的非均匀性
芯片到芯片的非均匀性
注意事项：
(1)
符号
色彩
(2)
FCLK
(1)
典型
128
~83.3
128/Fclk
500
1.85 ± 0.35
±
7.5
<100
<100
<6.5
±
5
单位
分子
µm
微秒/线
千赫
V
%
mV
mV
%
%
笔记
见注2更高的时钟速度
（最大为5MHz ）
Vpavg
(4)
Up
(5)
Vd
(6)
Ud
(7)
Upadj
(8)
UCC
(3)
(2)
(3)
(4)
(5)
(6)
(7)
(8)
色调表示的线扫描速度或积分时间。它是由时间间隔两个SP ，其中SP的开始行扫描过程之间确定的，如
一旦CP ，模块时钟，取得它并将其移入内部移位寄存器。在传感器中的一个行扫描的最小积分时间的数量
象素位置除以它的时钟频率。在CIS组件它是传感器的次数，在传感器的像素的数量，遍布时钟频率。在色调
晶片探针设置有用于设置Vpavg的幅度校准程序，见注3 。
是fclk是设备的时钟，CP次数也等于像素速率。在晶圆测试， fCLK时钟设置为500kHz的。但是，非盟特派团已成功质量 -
产生高频CIS组件，仅利用晶片测试来限定它们。因此，这些设备都在不断为自己的标准的高速测试
性能与每个A6的模块的生产。这些模块生产的测试证明，低速晶片探针测试是足以
产生可靠的图像设备。
Vpavg =
ΣVp （ N） / Npixels
（在一个线扫描的平均水平）
其中VP （n）是n的振幅
th
像素中的传感器芯片和Npixels是在传感器芯片上的像素的总数。
Vpavg从脉冲电流的视频像素转换成电压输出。参见图4 ，在第4.0节。和图5所示，在第5.0节。有一个校准
方法，使用色调作为变量来控制曝光，以校准Vpavg 。因此， Vpavg被校准为每个图像传感器的类型，以补偿
探针卡的变化，以及所述接口电路，以在晶片探针机。
向上是均匀性规范，在一个统一的揭露曝光测量。 UP = [ VP（最大） - Vpavg ] / Vpavg ×100 ％或[ Vpavg - VP（分） ] / Vpavg } X
100 ％ ，以较高者为准。
哪里
的vp （ max）为最高的像素输出电压中的光。
的vp （分钟）为最小的像素输出电压在黑暗中。
像素VP （n）是一个n
th
像素中Npixels在传感器内。
VD =
ΣVp （ N） / Npixels 。
其中VP（ n）是n的像素的信号幅度
th
像素传感器。黑暗是那里的灯熄灭，留下的图像表面未曝光。
UD = Vdmax - Vdmin 。
Upadj = MAX [| （VP （n）的 - VP （正+ 1） | / VP （正） ）×100 ％。 Upadj是不均匀的百分比。它是两个相邻像素之间的幅度差。
UCC是均匀的规格，在晶片上的良好模之间进行测量。下均匀曝光的传感器测量，并与计算出的
下面的算法：在晶片上的所有好的模具Vpavg被平均化，并分配VGpavg 。然后用最大Vpavg模具被分配Vpavg （最大值） ，
和所述一个以最小Vpavg分配Vpavg （分钟）。然后UCC = {[ Vpavg （最大值） -Vpavg （分） ] / VGpavg } ×100 。
AMI半导体公司
- 2006年5月， M- 20570-001
www.amis.com
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AMI [ AMI SEMICONDUCTOR ]
