DAC8562
晶圆测试极限
参数
(@ V
DD
= 5.0 V，5 ％ ，R
L
=空载，T
A
= + 25℃ ，适用于零件号DAC8562GBC只，
除非另有说明）
符号
条件
民
典型值
最大
单位
静态性能
相对精度
微分非线性
零刻度误差
满量程电压
参考输出电压
逻辑输入
逻辑输入低电压
逻辑输入高电压
输入漏电流
电源特性
正电源电流
功耗
电源灵敏度
INL
DNL
V
ZSE
V
FS
V
REF
V
IL
V
IH
I
IL
I
DD
P
DISS
PSS
无失码
数据= 000
H
数据= FFF
H
–1
–1
4.085
2.490
±
3/4
±
3/4
+1/2
4.095
2.500
+1
+1
+3
4.105
2.510
0.8
最低位
最低位
最低位
V
V
V
V
µA
mA
mA
mW
mW
%/%
2.4
10
V
IH
= 2.4 V, V
IL
= 0.8 V
V
IL
= 0 V, V
DD
= +5 V
V
IH
= 2.4 V, V
IL
= 0.8 V
V
IL
= 0 V, V
DD
= +5 V
∆V
DD
=
±
5%
3
0.6
15
3
0.002
6
1
30
5
0.004
记
1
电气测试在晶片探针进行到如图所示的范围。由于变化的装配方法和正常产量损失，包装后产率，不能保证
对于标准产品的骰子。咨询工厂的基础上，通过大量样本的组装和测试骰子很多资格洽谈规格。
绝对最大额定值*
1
t
CEW
t
DS
t
DH
V
DD
到DGND和AGND 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -0.3 V， + 10 V
逻辑输入到DGND 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 0.3 V ，V
DD
+ 0.3 V
V
OUT
到AGND 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 0.3 V ，V
DD
+ 0.3 V
V
REFOUT
到AGND 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 0.3 V ，V
DD
+ 0.3 V
AGND至DGND 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 0.3 V ，V
DD
I
OUT
短路接地。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 50毫安
封装功耗。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 （T
J
马克斯 - T的
A
)/
JA
热阻
JA
20引脚塑料DIP封装（ P） 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 74 ° C / W
20引脚SOIC封装（ S） 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 89 ° C / W
最高结温（T
J
最大值）。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 150℃
工作温度范围。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -40ºC至+ 85ºC
存储温度范围。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -65 ° C至+ 150°C
引线温度（焊接， 10秒） 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 + 300℃
*条件超过上述“绝对最大额定值”，可能会导致
永久损坏设备。这是一个额定值只和功能
该设备在这些或以上的任何其它条件的操作指示的
本规范的业务部门是不是暗示。暴露在绝对
最大额定值条件下工作会影响器件的可靠性。
CE
0
1
DB
11–0
0
1
数据有效
t
CLRW
CLR
0
FS
V
OUT
ZS
-1 LSB
误差带
t
S
t
S
图2.时序图
表一，控制逻辑真值表
CE
CLR
DAC寄存器功能
H
L
↑
+
X
H
H
H
H
L
↑
+
LATCHED
透明
锁存的新数据
装的都是零
锁存所有零
↑
+正逻辑转换; X不在乎。
小心
ESD （静电放电）敏感器件。数字控制输入二极管保护;
然而，永久性的损害可能在受到高能静电未连接设备发生
场。未使用的设备必须存储在导电泡沫或分流器。保护性泡沫应该是
排放到目的地插座插入设备之前。
警告！
ESD敏感器件
REV 。一
–3–
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