DAC312
晶圆测试极限
@ V =
S
15 V，I
REF
= 1.0毫安，T
A
= 25℃，除非另有说明。输出特性是指两个余
OUT
我
OUT
.
条件
DAC312N
极限
12
12
±
0.05
满量程电流
改变2分之<1 LSB
V
REF
= 10.000 V
R
14
, R
15
= 10.000 kΩ
+10
–5
4.031
3.967
±
1
0.1
从偏差
理想的步长
V
LC
= GND
V
LC
= GND
±
0.012
±
1/2
0.8
2
+18
–5
–2
V + = 13.5 V至16.5 V， V- = -15 V
V- = -13.5 V至-16.5 V ，V + = + 15V
V
S
= +15 V
I
REF
≤
1.0毫安
V
S
= +15 V
I
REF
≤
1.0毫安
±
0.001
±
0.001
7
–18
375
DAC312G
极限
12
12
±
0.05
+10
–5
4.063
3.935
±
2
0.1
±
0.025
±
1
0.8
2
+18
–5
–2
±
0.001
±
0.001
7
–18
375
单位
比特分
比特分
％ FS最大
V最大
V分钟
最大mA
毫安分钟
µA
最大
µA
最大
％ FS最大
位（ LSB ）最大
V最大
V分钟
V最大
V分钟
µA
最大
％ / ％≤
最大mA
毫瓦MAX
参数
决议
单调性
非线性
输出电压
合规
满量程
当前
满量程对称
零刻度电流
迪FF erential
非线性
逻辑输入电平“ 0 ”
逻辑输入电平“ 1 ”
逻辑输入秋千
参考偏置
当前
电源
灵敏度
电源
当前
动力
耗散
符号
VOC
I
FSS
I
ZS
DNL
V
IL
V
IH
V
IS
I
15
PSSI
FS +
PSSI
fs
I+
I–
P
D
记
电气测试在晶片探针进行到如图所示的范围。由于变化的装配方法和正常产量损失，包装后产率，不能保证
对于标准产品的骰子。咨询工厂的基础上，通过大量样本的组装和测试骰子很多资质洽谈规格。
DICE特性
1. B1（ MSB）中
2. B2
3. B3
4. B4
5. B5
6. B6
7. B7
8. B8
9. B9
10. B10
DIE SIZE 0.141
×
0.096英寸， 13536平方密耳（ 3.58
×
2.44毫米，8.74平方毫米）
11. B11
12. B12 （ LSB ）
13. V
LC
/A
GND
14. V
REF
(+)
15. V
REF
(–)
16. COMP
17. V–
18. I
O
19. I
O
20. V+
–4–
版本C
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