ADM1025/ADM1025A
表Ⅳ中。控制操作
INT
产生
SMBALERT
测试注册
第1位
位0
0
0
1
1
0
1
0
1
功能
禁止中断
热中断，只有
电压中断，只有
电压和热中断
该
INT
输出可以用来作为中断输出，或者可以是
作为
SMBALERT 。
一个或更多
INT
输出可以CON组
可连接到共同的
SMBALERT
线连接到主机。
如果器件的
INT
线变为低时，执行下面的过程：
1.
SMBALERT
拉低。
2.主发起一个读操作，并发送警报
响应地址（ ARA = 0001 100 ） 。这是一般呼叫
地址不能被用作一个特定的设备地址。
3.设备，其
INT
输出为低响应该警报
响应地址和主机读取的设备地址。
该设备的地址是目前已知，它可以是间
rogated以通常的方式。
4.如果有一个以上的设备的
INT
输出为低，则其中
最低的设备地址将优先，按照
与正常的SMBus仲裁。
5.一旦ADM1025 / ADM1025A已经响应警报
响应地址，它会重置其
INT
输出;然而，如果
引起中断仍然存在错误的情况下，
INT
将重申在下一监测周期。
NAND树测试
注意，位VID寄存器的第7应为零，而毕特2到试验7
注册必须为零。
当销16被用作
RST
or
INT
输出，它是开漏
需要一个外部上拉电阻。这将限制地址
功能上的引脚16为高的电。如果
RST
or
INT
功能是必需的，并
两
ADM1025 / ADM1025As是为
同样的串行总线上使用的， A1 / A0可以通过使用被设置为10
在引脚16的高价值的上拉（ 100 kΩ或更大） 。这不会
覆盖ADD的电期间的“浮动”状态。
然而，请注意，在
RST / INT
的两个或多个输出
设备不能线或运算，作为设备将不得不
相同的地址。如果
RST / INT
输出需要被连接
一个共同的断线，他们可以使用被逻辑或运算，
图13的电路。
如果
RST
or
INT
不是必需的功能，第三地址
也可以使用通过将A1 / A0至00通过使用一个1千欧的上拉下来
电阻上的引脚16。注意，这个地址不能被使用的话
RST
or
INT
是必需的，因为使用该地址将导致
显示设备能够产生复位或中断，因为引脚
16将永久接低电平。
V
CC
R1
1k
一个NAND树在ADM1025 / ADM1025A服务提供
自动测试设备（ ATE ）的板级连接
测试。该设备被放置到NAND测试模式加电
荷兰国际集团与引脚9 （ D / NTI ）保持高电平。该引脚自动
在上电后取样，并如果它是连接高，与非
测试模式被调用。
在NAND测试模式下，所有的数字输入可以进行试验illus-
下面trated 。 ADD / RST / INT / NTO将成为NAND测试
输出引脚。
A1/A0 = 01
ADD / RST / INT / NTO
SDA
SCL
ADM1025/
ADM1025A
#1
V
CC
R2
470k
V
CC
R5
4.7k
RST
OR
INT
集电极开路
与门
A1/A0 = 10
ADD / RST / INT / NTO
SDA
SCL
#2
ADM1025/
ADM1025A
要执行NAND树测试，所有引脚都初始化驱动为低电平。
测试向量集的所有输入低，则一个接一个肘它们
高（保持他们的高点） 。行使测试电路与此
“行走1 ”模式，从所述输入最靠近输出
把树的，骑车朝向最远，使输出
树来切换各输入变化。允许一个典型
500 ns的传播延迟。所述NAND树的结构是
在图14中示出。
SDA
SCL
VID0
VID1
VID2
VID3
图13.使用上的两个ADM1025 / ADM1025As
同一总线共用一个中断
ADD / RST / INT / NTO
图14. NAND树
注意：如果任一在图14所示的输入是未使用的，它们
不应直接连接到地，但通过一个电阻
如10 kΩ的。这将允许ATE （自动测试设备
MENT）来驱动每个投入高，使得NAND树测试可
正确地进行。请参考表XVI的测试向量。
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REV 。一
AD [ ANALOG DEVICES ]
