ADG704–SPECIFICATIONS
参数
模拟开关
模拟信号范围
导通电阻(R
ON
)
导通电阻之间的匹配
通道( ΔR
ON
)
导通电阻平坦度(R
平(ON)的
)
漏电流
来源OFF漏我
S
(关闭)
流掉泄漏我
D
(关闭)
渠道渗漏我
D
, I
S
(上)
数字输入
输入高电压,V
INH
输入低电压,V
INL
输入电流
I
INL
还是我
INH
动态特性
2
t
ON
t
关闭
突破前先延时,T
D
电荷注入
关断隔离
0.75
1
(V
DD
= +5 V
10 % , GND = 0 V,所有规格-40 ℃〜 + 85℃ ,除非
另有说明)。
B版本
-40 ℃〜
+25 C
+85 C
0 V至V
DD
2.5
4
4.5
0.1
0.4
1.2
±
0.01
±
0.1
±
0.01
±
0.1
±
0.01
±
0.1
单位
V
Ω
典型值
Ω
最大
Ω
典型值
Ω
最大
Ω
典型值
Ω
最大
nA的典型值
nA的最大
nA的典型值
nA的最大
nA的典型值
nA的最大
V分钟
V最大
µA
典型值
µA
最大
纳秒(典型值)
ns(最大值)
纳秒(典型值)
ns(最大值)
纳秒(典型值)
ns(最小值)
pC的典型值
dB典型值
dB典型值
dB典型值
dB典型值
兆赫(典型值)
pF的典型值
pF的典型值
pF的典型值
测试条件/评论
V
S
= 0 V到V
DD
, I
DS
= -10毫安;
测试电路1
V
S
= 0 V到V
DD
, I
DS
= -10毫安
V
S
= 0 V到V
DD
, I
DS
= -10毫安
V
DD
= +5.5 V
V
S
= 4.5 V/1 V, V
D
= 1 V/4.5 V;
测试电路2
V
S
= 4.5 V/1 V, V
D
= 1 V/4.5 V;
测试电路2
V
S
= V
D
= 4.5 V或1 V ;
测试电路3
±
0.3
±
0.3
±
0.3
2.4
0.8
0.005
±
0.1
V
IN
= V
INL
或V
INH
14
20
6
13
8
1
3
–60
–80
–62
–82
200
9
37
54
通道到通道的串扰
带宽的-3 dB
C
S
(关闭)
C
D
(关闭)
C
D
, C
S
(上)
电源要求
I
DD
R
L
= 300
Ω,
C
L
= 35 pF的
V
S
= 3 V ,测试电路4
R
L
= 300
Ω,
C
L
= 35 pF的
V
S
= 3 V ,测试电路4
R
L
= 300
Ω,
C
L
= 35 pF的
V
S1
= V
S2
= 3 V ,测试电路5
V
S
= 2 V ,R
S
= 0
Ω,
C
L
= 1 nF的;
测试电路6
R
L
= 50
Ω,
C
L
= 5 PF, F = 10 MHz的
R
L
= 50
Ω,
C
L
= 5 PF, F = 1MHz的;
测试电路7
R
L
= 50
Ω,
C
L
= 5 PF, F = 10 MHz的
R
L
= 50
Ω,
C
L
= 5 PF, F = 1MHz的;
测试电路8
R
L
= 50
Ω,
C
L
= 5 pF的;测试电路9
0.001
1.0
µA
典型值
µA
最大
V
DD
= +5.5 V
数字输入= 0 V或5 V
笔记
1
温度范围如下: B版本: -40 ° C至+ 85°C 。
2
通过设计保证,不受生产测试。
特定网络阳离子如有更改,恕不另行通知。
–2–
REV 。一