TABLE I. Electrical performance characteristics - Continued.
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│ pF
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Test
│Symbol
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│
Conditions
-55°C ≤ TC ≤+125°C
VSS = 0 V,
│Group A
│subgroups │ types
│
│
│ Device
Limits
Unit
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│
4.5 V ≤ VCC ≤ 5.5 V
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│ Min
│ Max
│unless otherwise specified 1/
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│
Input capacitance
Output capacitance
Read cycle time
│CI 3/ 4/ │VIN = 0 V, VCC = 5.0 V
│ 4
All
All
│ 10
│
│
│
│
│
│
│TA = +25°C, f = 1 MHz
│See 4.3.1c
│
│
│
│
│CO 3/ 4/ │VOUT = 0 V, VCC = 5.0 V
│
4
│ 10
│ pF
│
│
│
│TA = +25°C, f = 1 MHz
│See 4.3.1c
│
│
│
│
│
│
│
│
│350
│300
│
│
│
│
│
│
│
│ ns
│ 01,09
│ 02,10
│tAVAV 5/ │See figure 4
│ 9,10,11
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│
│03,05,11,13 │250
│ 04,12 │200
│06-08,14-16 │150
│
│
│
│
│
│
│
│ 01,09
│ 02,10
│
│
│ 350
│ 300 │ ns
│ 250
│ 200
│ 150
│ 350
Address access time │tAVQV 5/
│ 9,10,11
│
│
│
│
│
│
│
│03,05,11,13 │
│ 04,12
│06-08,14-16 │
│
│
│
│
│
│
│ 01,09
│ 02,10
│
│
Chip enable access
time
│tELQV 5/
│ 9,10,11
│
│
│
│ 300 │ ns
│
│
│
│
│03,05,11,13 │
│ 04,12
│06-08,14-16 │
│ 250
│ 200
│ 150
│
│ 100 │ ns
│
│ 80
│
│
│
│
│
│
│
│
│01-03,05
│09-11,13
│
│
Output enable access │tOLQV 5/
│ 9,10,11
│
│
│
time
│
│
│
│04,06,07,08 │
│12,14,15,16 │
│
│
│
│
│
Chip enable to output │tELQX 4/
│ 9,10,11
│ All
│ 10
│
│ ns
in low Z
│
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│
5/
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
Chip disable to
output in high Z
│tEHQZ 4/
│ 9,10,11
│
│
│
│01,02,09,10 │
│ 80
│
│ 60
│
│ ns
│
│
│
│
│
│
5/
│
│
│03-08,11-16 │
│
│
Output enable to
output in low Z
│tOLQX 4/
│ 9,10,11
│ All
│ 10
│
│
│ ns
│
│
│
5/
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
Output disable to
output in high Z
│tOHQZ 4/
│ 9,10,11
│
│
│
│ 9,10,11
│
│
│01,02,09,10 │
│ 80
│
│ 60
│
│
│
│
│ ns
│
│
│
│ ns
│
│
│
│
│
5/
│
│
│03-08,11-16 │
│
│
Output hold from
address change
│tAXQX 4/
│
│
│ All
│
│
│ 0
│
│
5/
See footnotes at end of table.
SIZE
STANDARD
5962-88525
A
MICROCIRCUIT DRAWING
DEFENSE SUPPLY CENTER COLUMBUS
COLUMBUS, OHIO 43218-3990
REVISION LEVEL
SHEET
D
6
DSCC FORM 2234
APR 97
XICOR [ XICOR INC. ]
