TABLE I. Electrical performance characteristics.
│
│
│
│
│
│
│
│
│
Test
│Symbol │
│
│
Conditions 1/ 2/
│ Group A │ Device
│subgroups│ type
│
Limits
│ Unit
│
│
│ -55°C < TC <+125°C
│VSS = 0 V 4.5 V < VCC < 5.5 V
│
│
│
│ unless otherwise specified
│
│
│ Min
│ Max
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│ICC
│
│
│
│
│
│
│
│
│ 60
│
│
│ 80
│
│
Supply current
(active)
│CE = OE = VIL, WE = VIH
│All I/O's = open
│Inputs = VCC = 5.5 V
│
│
│ 1,2,3
│
│
│
│
│01-05,
│23-27
│
│06-12
│
│ mA
│
│
│
│
│
│
│
│13-22,28 │
│ 45
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│ICC1
│
│
│
│
│
│
│
│
│ 3
│
│
│
│
Supply current
(TTL standby)
│CE = VIH, OE = VIL
│All I/O's = open
│ 1,2,3
│
│ All
│
│ mA
│
│
│Inputs = X
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
Supply current
(CMOS standby)
│ICC2
│
│
│CE = VCC -0.3 V
│All I/O's = open
│Inputs = VIL to VCC -0.3 V
│ 1,2,3
│
│
│01-12,
│23-27
│
│250
│
│
│ µA
│
│
│
│
│
│13-22,28 │
│150
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
Input leakage
(high)
│IIH
│
│
│VIN = 5.5 V
│
│
│ 1,2,3
│
│
│ All
│
│
│-10
│
│
│ 10
│
│
│ µA
│
│
Input leakage
(low)
│IIL
│
│
│VIN = 0.1 V
│
│
│ 1,2,3
│
│
│ All
│
│
│-10
│
│
│ 10
│
│
│ µA
│
│
Output leakage 3/
(high)
│IOHZ
│
│VOUT = 5.5 V, CE = VIH
│ 1,2,3
│ All
│-10
│ 10
│ µA
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
Output leakage 3/
(low)
│IOLZ
│
│VOUT = 0.1 V, CE = VIH
│ 1,2,3
│ All
│-10
│ 10
│ µA
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
Input voltage
low
│VIL
│
│
│
│
│
│ 1,2,3
│
│
│ All
│
│
│ -0.1
│
│
│ 0.8
│
│
│ V
│
│
Input voltage
high
│VIH
│
│
│
│
│
│ 1,2,3
│
│
│ All
│
│
│ 2.0
│
│
│VCC+0.3 │ V
│
│
│
│
Output voltage
low
│VOL
│
│IOL = 2.1 mA, VIH = 2.0 V
│VCC = 4.5 V, VIL = 0.8 V
│
│
│IOH = -400 µA, VIH = 2.0 V
│VCC = 4.5 V, VIL = 0.8 V
│
│ 1,2,3
│ All
│
│ 0.45
│ V
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
│
Output voltage
high
│VOH
│
│
│ 1,2,3
│
│
│ All
│
│
│ 2.4
│
│
│ V
│
│
See footnotes at end of table.
SIZE
STANDARD
5962-87514
A
MICROCIRCUIT DRAWING
DEFENSE SUPPLY CENTER COLUMBUS
COLUMBUS, OHIO 43218-3990
REVISION LEVEL
E
SHEET
6
DSCC FORM 2234
APR 97
XICOR [ XICOR INC. ]
